免洗焊錫絲錫須現(xiàn)象
免洗焊錫絲出現(xiàn)錫須會導(dǎo)致電路短路,并導(dǎo)致電容器失效,這一問題引發(fā)人們對Sn晶須進行了長期深入而廣泛的研究。但是時至今日,Sn晶須現(xiàn)象還存在大量未解之謎。
晶須是指在金屬表面生長出的細絲狀單晶,通常生長在厚度較小的金屬沉積層表面,而以含錫鍍層表面生長的Sn晶須最典型。由于材料內(nèi)應(yīng)力梯度的存在,免洗焊錫絲錫須的生長是一個自發(fā)的過程,但是,其生長速度與外部環(huán)境條件密切相關(guān)。
免洗焊錫絲錫須導(dǎo)致的失效形式主要有4種
1、在低電壓下,由于電流比較小,錫須可以在領(lǐng)近不同電勢表面產(chǎn)生穩(wěn)定持久的短路;
2、在高電壓下,當電流足夠高而超過Sn晶須的熔斷電流時,可以熔斷晶須從而導(dǎo)致瞬時短路;
3、在航天器真空環(huán)境中,由錫須短路導(dǎo)致金屬蒸發(fā)放電,可形成一個穩(wěn)定的等離子電弧,并導(dǎo)致電子設(shè)備迅速毀壞;
4、在震動環(huán)境中,晶須脫落會引發(fā)電路短路,同時還可造成精密機械的故障或破壞。
因此,Sn晶須問題成為焊錫絲無鉛化進程的一個重要的可靠性問題,也是無鉛焊錫絲及所有無鉛焊錫產(chǎn)品進程的重要的可靠性問題。
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